电子产品可靠性白盒测试_公开课

课程大纲

1、测试基础
1.1、研发样机测试与中试样机测试的区别
1.2、原理验证和一致性验证的判据区别
1.3、测试的工具方法类型（模拟测试、仿真、工程计算、规范审查）
1.4、基于单一故障的接口故障分析及测试模拟方法
1.5、测试覆盖率与MECE方法

2、波形诊断
2.1、电路常见异常波形的种类
2.2、回勾波形的成因与应对措施
2.3、过冲波形的成因与应对措施
2.4、振荡波形的成因与应对措施
2.5、平台波形的成因与应对措施
2.6、塌陷波形的成因与应对措施
2.7、鼓包波形的成因与应对措施

3、参数计算与审查
3.1、WCCA参数分析
3.2、容差计算
3.3、蒙特卡洛分析方法
3.4、降额审查
3.5、热测试与计算
3.6、常用各类电路里器件参数计算审查（电容、电感、磁珠、电阻、开关管等）

4、一致性测试及测试数据分析
4.1、批次数据分析
4.2、正态分布的工程意义
4.3、各种异化正态分布曲线的含义与机理

5、单一故障分析与模拟测试
5.1、设计调查表
5.2、用户现场环境条件（环境对产品零部件的失效影响及模拟测试方法）
5.3、人机接口条件（操作者认知与习惯的潜在隐患防护）
5.4、关联设备的相互影响（能量与信号输入输出的相互潜在影响及模拟测试方法）
6、基于失效机理的应力测试
6.1、常用器件、部件零件的失效机理和失效诱发应力
6.2、针对失效机理的模拟测试用例设计

7、软件测试
7.1、路径覆盖的测试用例设计方法
7.2、数据覆盖的测试用例设计方法
7.3、黑盒测试与白盒测试的测试用例设计方法

8、器件质量控制测试
8.1、光学检测
8.2、参数测试与统计分析
8.3、IV曲线测试

9、标准符合性测试
9.1、通用标准测试项目
9.2、安规（通用安规要求、安规测试判据、气、液、电混合布局安规测试用例）
9.3、电磁兼容
9.4、产品内部不同类型模块之间的相互影响检查与测试

10、基于失效机理的应力测试
10.1、常用器件、部件零件的失效机理和失效诱发应力
10.2、针对失效机理的模拟测试用例设计

11、应力变化率测试
11.1、环境应力变化率的影响
11.2、负载应力变化率的影响
11.3、能量及信号输入变化率的影响
11.4、过渡过程应力对设备故障的影响

12、组合应力测试
现场多应力组合示例

13、器件失效特征规律和故障原因分析方法
13.1、电流应力与电压应力的故障特征区别
13.2、突发浪涌应力与持续过电应力的故障特征区别

培训师介绍

Kenny老师。
电子工程硕士，研究领域：电子产品系统可靠性设计与测试技术。
曾任航天二院总体设计所主任设计师、高级项目经理，机电制造企业研发总监、事业部总监，北京市级优秀青年工程师，科协委员。
有电子产品、军工、通信等专业方向的设计、测评和技术管理经历，对产品系统设计、可靠性设计、技术管理有较深入研究，曾在学术会议及多家技术刊物发表专业文章。
曾为比亚迪、中电30所、29所、北京华峰测控、北京航天长峰、普析通用仪器、航天二院23所、航天五院、株洲车辆研究所、北大青鸟环宇、惠州德赛、陕西华经微电子、西安工业集团公司、松下电工、航盛电子等企业提供专业技术和技术管理辅导、培训和咨询。
较擅长于将高深的理论知识转化为符合企业技术和经营特性的可操作实践方法.

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