SPC/ MSA：统计过程控制（第二版）/测量系统的分析（第四版）_公开课

培训受众:

管理人员；技术、质量、生产管理人员；设计工程师；工艺工程师；质量工程师等；

课程收益:

SPC:
1、理解SPC的基本原理和实践方法；
2、建立常用的休哈特控制图并能对控制图作解释；
3、了解对于过程能力/性能指数的有关定义，计算等；
4、了解过程改进循环和过程控制的各阶段运用控制图的流程；
5、减少产品在检验、测量、试验过程中误判的可能性；
MSA：
1、了解测量系统的构成；
2、掌握常用测量系统分析的方法；
3、掌握测量设备的选择方法；
4、学会测量系统的改进方法；

课程大纲

SPC:
一. 统计过程的基本概念及理论基础
二. SPC 的发展与控制图
三. 计量型数据的控制图与计数型数据的控制图
1. X-R 管制图（均值-极差控制图）
2.X-S 管制图（均值-标准差控制图）
3. 中位数极差图
4. 单值-移动极差图
5. 不合格品率的控制图于计数型数据的控制图-P 图
6. 不合格品数的控制图-NP 图
7. 不合格数的控制图-C 图
8.单位不合格数控制图-U图
四. 过程能力与过程性能研究
五. 案例分析与现场练习

MSA:
一.MSA 的重要性
二.测量系统基础术语
三.测量系统分析的对象
四.测量系统误差来源
五.测量系统统计特性
六.理想的测量系统
七.测量系统应有的特性
八.测量系统研究准备
九.计量型分析
十.稳定性分析
十一.偏倚分析
十二.线性分析
十三.重复性和再现性分析
十四.计数型分析
十五.风险评估法
十六.软件演示与案例练习

本课程名称： SPC/ MSA：统计过程控制（第二版）/测量系统的分析（第四版）

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