你的位置: 首页 > 公开课首页 > 生产管理 > 课程详情
课程介绍 评价详情(0)
SPC:
n 一. 统计过程的基本概念及理论基础
二. 计量型数据的控制图与计数型数据的控制图1. X-R 管制图(均值-极差控制图)
2.X-S 管制图(均值-标准差控制图);
3. 中位数极差图;
4. 单值-移动极差图;
5. 不合格品率的控制图于计数型数据的控制图-P 图;
6. 不合格品数的控制图-NP 图;
7. 不合格数的控制图-C 图;
8.单位不合格数控制图-U 图;
n 三. 过程能力与过程性能研究
n 四. SPC的发展与短期控制图
n 五. 案例分析与现场练习
n 六. 测试
MSA:
n 一、MSA 的重要性
n 二.测量系统分析的对象
n 三.测量系统误差来源
n 四.测量基础术语
n 五.测量系统统计特性
n 六.理想的测量系统
n 七.测量系统应有的特性
n 八.测量系统研究准备
n 九.计量型分析:
n 十.稳定性分析
n 十一.偏倚分析
n 十二.线性分析指南
n 十三.重复性和再现性分析指南
n 十四.计数型分析:
n 十五.风险评估法
n 十六.软件演示与案例练习
n 十七.测试
本课程名称: SPC(统计过程控制)&MSA(测量系统分析)
查看更多:生产管理公开课
我要找内训供应商
授课内容与课纲相符0低0%
讲师授课水平0低0%
服务态度0低0%
课程介绍 评价详情(0)
培训受众:
课程收益:
掌握
获得 “预防优于检测 ”的概念 , 避免浪费;
介绍选择各种方法来评定测量系统质量的指南;
掌握
获得 " 预防优于检测 " 的概念避免浪费
减少产品在检验、测量、试验过程中误判的可能性
了解测量系统的构成
掌握常用测量系统分析的方法
掌握测量设备的选择方法
明确测量系统的改进方法
培训颁发证书:
课程大纲
SPC:
n 一. 统计过程的基本概念及理论基础
二. 计量型数据的控制图与计数型数据的控制图
1. X-R 管制图(均值-极差控制图)
2.X-S 管制图(均值-标准差控制图);
3. 中位数极差图;
4. 单值-移动极差图;
5. 不合格品率的控制图于计数型数据的控制图-P 图;
6. 不合格品数的控制图-NP 图;
7. 不合格数的控制图-C 图;
8.单位不合格数控制图-U 图;
n 三. 过程能力与过程性能研究
n 四. SPC的发展与短期控制图
n 五. 案例分析与现场练习
n 六. 测试
MSA:
n 一、MSA 的重要性
n 二.测量系统分析的对象
n 三.测量系统误差来源
n 四.测量基础术语
n 五.测量系统统计特性
n 六.理想的测量系统
n 七.测量系统应有的特性
n 八.测量系统研究准备
n 九.计量型分析:
n 十.稳定性分析
n 十一.偏倚分析
n 十二.线性分析指南
n 十三.重复性和再现性分析指南
n 十四.计数型分析:
n 十五.风险评估法
n 十六.软件演示与案例练习
n 十七.测试
培训师介绍
毕业院校:中南财经政法大学
擅长领域:管理体系
各行业的( IATF16949、 ISO9001、ISO14001、ISO45001、ISO/TS22163、TL9000)
汽车行业五大工具
(APQP/FMEA/MSA/SPC/PPAP)
VDA6.3
3C咨询辅导
专业资格 :IATF 16949体系认证咨询师
ISO/TS22163评审员
ISO9001/ISO14001/ISO45001评审员
AS9100评审员
方之见资深顾问师
本课程名称: SPC(统计过程控制)&MSA(测量系统分析)
查看更多:生产管理公开课