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SPC统计过程控制& MSA测量系统分析

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  • 开课时间:2024/05/28 09:00 已结束
  • 结束时间:2024/05/29 17:00
  • 开课地点:北京市
  • 授课讲师: 刘娜
  • 课程编号:423966
  • 课程分类:生产管理
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培训受众:

质量工程师,量检具管理和使用人员,供应商管理工程师,售后质量工程师,研发的产品工程师,工艺工程师,采购工程师,销售工程师,市场开发工程师,生产的车间主任,车间工艺员等、生产班组长,生产线工人,检验员等。

课程收益:

 使企业人员学会测量系统的五性分析
 根据实际要求配备合适的量具,降低成本
 学会测量系统分析与检定校准的区别
 使企业的过程监控数据的质量提升
 使企业过程的监控更灵敏
 提高从业人员的技能水平,适应顾客的要求
 获得采购商对质量管理的认可,从而获得更多客户
 科学有效的提高企业生产力效率。
 大幅降低产品报废率,提高产品工艺精度。
 及时发现生产流程中的问题隐患。
 有效削减生产成本。
 在制造现场随时做出准确判断和决策。
 对生产流程中任何变化迅速做出反应。

课程大纲

SPC
1、统计技术概述
  *什么是SPC
  *统计学
*SPC的起源
*SPC的发展历程
*SPC的作用和特点
2、基本的统计概念
*基本术语
*正态分布
*主要统计参数
3、统计过程控制原理
*两种过程控制模型和控制策略
*具有反馈的过程控制模型
*两种模型的比较
*两种变差原因
*两种过程状态
*两种控制措施
*两种质量观
*四类过程及对策
*持续改进过程循环
*过程的持续改进
*计量型数据过程能力理解
*过程能力指数计算不合格品率
4、控制图   
 *控制图的概念  
 *控制图的作用 
 *控制图分类
*控制图的用途
*控制图的用途
*控制图应用的一般程序
*控制用控制图的日常管理
*控制用控制图判断准则
5、计量型数据控制图
*X - R
6、计数型数据控制图简介
    *P图
7、案例练习


MSA
1、引言
  *数据的用途
  *数据的类型
*测量系统的统计特性
*什么是“好”的测量系统
*数据的质量 
*检定或校准能不能代替测量系统分析


2、基本的统计概念
*测量
*量具
*分辨力(率)
*可视分辨率
*有效分辨率
*数据
*测量系统
*测量过程
*测量误差
*朔源性
*偏倚
*线性
*稳定性
*重复性
*再现性
*数据分级数
3、测量系统分析(MSA)基础
*ISO/TS16949与MSA
*进行测量系统分析时应具备的条件
*测量系统变差的类型
*测量系统的变差
*测量系统分析的时机
*测量系统分析的作用
*测量系统分析的准备*
*测量系统分析的接收准则
*测量系统分析执行注意点
*测量系统分析实施流程
4、测量系统的分析实施   
 * MSA方法的分类 
 *计量型测量系统分析
测量系统的偏倚
   测量系统的线性分析
测量系统的稳定性
量具R&R 分析(均值-极差法)
*计数型测量系统分析
  假设检验分析─交叉表方法
5、案例练习

本课程名称: SPC统计过程控制& MSA测量系统分析

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