产品故障管理与可测性设计（第二期）_公开课

培训受众:

- 研发总监、研发部经理、测试部经理、制造技术部经理、新产品导入(NPI)经理；
- 总工程师、资深硬件工程师、资深软件工程师、资深其它研发工程师；

课程收益:

- 通过案例导读和讲解的方式，深刻阐述了可测性设计在产品的开发、测试、生产和市场维护中的故障管理及其设计。
- 以可测性设计的基本原理和基本方法为出发点，通过实例来系统深入地讲解电子产品的可测性设计理念和解决方案。
- 通过该课程的学习可以掌握电子产品可测性设计的要素和方法。

课程大纲

1、产品故障管理设计
- 硬件层故障管理支持、单板级故障管理、设备级故障管理及网管级故障管理
- 故障管理设计
2、可测性概念
- 什么是可测性、可测性的能控性和能观性、可测性设计
- 当前测试面临的困难、测试方法发展趋势
- 电子系统功能不正确的原因、缺陷种类、PCB典型故障
- 理想的测试、真实的测试、生产测试、多种测试手段结合、减少测试费用的方法
- 用户的可测性需求、内部的可测性需求、直通率与可测性
- 故障的影响、可测性的效益
3、可测性设计过程
- 过程概述、DFT规格需求、建立可测性基线
- 方案设计、可测性实现、可测性验证、可测性评估
- 可测性设计体系、可测性设计组织保证
4、可测性设计的方法和技术
- 可测性设计指标定义、可测性的方法和技术―端到端、可测性设计需求分析方法
- 可测性的分析方法、经验分析法、D矩阵分析法、器件失效模式库建库规则
- 故障检测常用技术、取值范围检测法、比较法、数据一致性检测、时基检测法、BIST
- 复杂单板举例、JTAG技术、JTAG原理、JTAG应用、单板JTAG的一条链设计、系统JTAG
- 专项可测性技术：上电自检技术、电子标签、存储器测试、老化中测试、时钟测试技术
- 案例分析：E公司的DFT架构、C公司DFT、A公司、故障预警
5、总结及问题讨论

培训师介绍

李老师慧海明科技产品开发工程（PDE）及可测试性首席专家
从业经验：
- 有11年大型公司的研发管理和实践经验，曾就职于华为（9年）和Lockheed Martin等。
- 是华为2002年首批150位主任工程师之一，并从2003年起为华为产品工程部北研分部负责人，全权负责华为北研分部的产品工程设计（工艺、器件、DFx和生产测试等）；个人累计申请专利约15项；
- 曾主持制定华为多部产品工程、生产测试和可测性设计的规范、指导书；
- 曾多次获得华为公司荣誉奖和优秀教师称号；负责产品工程业务培训组织和实施，并制定公司级生产测试和可测性设计教材。
- 在华为，曾主持开发多型号产品，具有丰富的按IPD流程开展的产品开发实践经验。
专长：
产品开发工程、研发流程、DFx、生产测试、硬件技术等。

本课程名称： 产品故障管理与可测性设计（第二期）

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