电子元器件常见失效模式及失效机理_公开课

培训受众:

系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、质量可靠性管理、失效分析工程师

课程收益:

航天科技集团电子元器件专家组成员、失效分析专家胡会能先生一直在中国运载火箭技术研究院从事电子元器件失效分析工作。负责完成多项重大失效分析任务，完成和指导完成的电子元器件失效分析案例共万余次，积累了丰富的实践经验。胡先生从不开设公开课，我公司邀请胡会能先生破例开设公开课，讲授电子元器件常见实效模式及失效机理，帮助学员了解电子元器件得常见失效模式及失效机理，制定纠正措施，为产品可靠性设计及可靠性预计提供基础

课程大纲

课程大纲：
1、电子元器件引线断裂的常见失效模式
2、电阻器，电位器常见失效模式及机理分析
3、电容器常见失效模式及机理分析
4、继电器常见失效模式及机理分析
5、电连接器常见失效模式及机理分析
6、分立器件常见失效模式及机理分析
7、集成电路常见失效模式及机理分析
8、混合集成电路常见失效模式及机理分析
2008年 5月20全天。2008年 5月21上午参观航天博物馆（内部）