“电子元器件的失效分析技术与经典案例”技术讲座邀请函_公开课

培训受众:

课程对象：
从事电子元器件（包括集成电路）失效分析的工程师，质量、可靠性工程师和管理人员具体事宜联络付老师(壹伍捌壹捌陆捌叁肆壹玖)。
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课程收益:

课程概要及收益：

“电子元器件失效分析技术与经典案例”分为两讲，第一讲是“电子元器件失效分析技术”，这一讲中首先简单讲述电子产品（包括各种元器件、集成电路、组件等）失效分析的主要术语，失效分析的程序和方法。重点通过具体的分析案例，剖析失效分析的程序和方法各个节点的分析要点和分析技巧。通过学习让学员掌握怎样开展失效分析工作，采用什么分析仪器设备提取失效样品的失效证据，怎样研判失效证据与样品失效的关系，从而诊断失效样品的失效机理；掌握分析设备的应用技巧和失效分析中的关键问题。第二讲是“失效分析经典案例”，通过典型的失效分析案例的剖析，加深失效分析程序和方法的掌握，通过典型的失效分析案例讲述各种元器件、各种失效机理的分析、诊断方法，并在失效分析的案例中培训学员怎样考虑问题、怎样采用合适的分析手段（分析仪器、设备）提取证据，怎样识别各种失效机理的表现特征，怎样对获得的各方面的信息、证据进行综合分析以达到对失效产品进行准确诊断的目的具体事宜联络付老师(壹伍捌壹捌陆捌叁肆壹玖)。
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培训颁发证书:

◆证书：由中国电子专用设备协会颁发培训证书

课程大纲

课程背景：

电子产品在不断与失效作斗争中不断提高可靠性，失效分析是与产品失效作斗争的最有效的工具。失效分析是故障归零的关键技术：产品故障归零技术上要求“定位准确，机理清楚，故障再现，措施有效，举一反三”，显然，失效分析实现“机理清楚”，只有在失效机理的指引下才能确定正确的“故障再现”的应力，只有在机理的指引下，才能确定引起故障的原因，对故障实施改进、控制才能做到“措施有效”具体事宜联络付老师(壹伍捌壹捌陆捌叁肆壹玖)。
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本课程将涵盖以下主题：

第一讲：电子元器件失效分析程序和方法

（1）失效分析的作用

1. 从可靠性发展过程的三个阶段（事后检测、事前预防、事前控制）见证失效分析的作用

2. 从失效分析案例中见证失效分析在产品可靠性中的作用。

3. 从质量可靠性活动中见证失效分析的作用

（2）失效分析程序和方法

1. 失效分析基本概念

2. 失效分析基本步骤

信息分析

失效模式确认

可能的失效机理

寻找失效证据

必要的验证和综合分析。

（3）失效分析基本流程

信息分析

外观检查

非破坏性分析

破坏性分析

综合分析

编写报告

失效分析技术路线

（4）操作原则和知识需求

（5）失效分析技术（分析设备）

1）制样技术

2）形貌分析技术

3）成分分析技术

4）物理（热、力、声、光）分析技术

5）应力试验分析技术

第二讲：失效分析经典案例

（1）失效分析全过程案例

（2）针对失效机理和失效原因的经典案例

1. 材料缺陷失效分析案例

2. 结构缺陷失效分析案例

3. 制造工艺缺陷失效分析案例

4. 静电损伤失效分析案例

5. 电浪涌失效分析案例

6. 机械应力失效分析案例

7. 热变应力失效分析案例

8. 污染腐蚀失效分析案例

9. 使用不当失效分析案例

10. 元器件固有机理失效分析案例。

上述案例包含元器件的各个门类，包括电阻器、电容器、电感器、二极管、三极管、集成电路、组件、板件（PCBA）。

◆培训时间：2012年5月25日至26日（深圳）/2012年5月18日至19日（苏州）

◆培训费用：￥2500元/2天/人

培训师介绍

李少平老师：高级工程师，1984年毕业于成都电讯工程学院（现中国电子科技大学）半导体器件专业，毕业后一直在中国赛宝实验室（信息产业部电子第五研究所）可靠性研究分析中心从电子产品可靠性分析、研究工作。长期从事对电子企业的可靠性增长和产品失效分析工作，具有丰富的失效分析经验，并积累了大量的经典分析案例，是中国赛宝实验室（信息产业部电子第五研究所）可靠性研究分析中心资深的失效分析专家。

主要培训的企业有：美的失效分析实验室建设技术咨询和失效分析技术培训，海尔检测中心的技术咨询和失效分析技术培训，广东核电进行电子元器件老化技术，继电器老化管理，板件老化管理培训，中兴通讯的失效分析技术培训，富士康失效分析技术现场研讨，中国赛宝实验室元器件可靠性研究分析中培训学员的实习指导，以及失效分析专题公开培训。先后参与《失效分析经典案例100例》和《电子元器件失效技术》的编写。

中国赛宝实验室（信息产业部电子第五研究所）是可靠性专业的综合研究所，属下的可靠性研究分析中心专门从可靠性物理的研究和分析工作，面向军、民企业提供可靠性支撑技术，直接的服务主要是包括失效分析的可靠性技术。可靠性物理及其应用技术国家重点实验室的依托实体就是信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心。

本课程名称： “电子元器件的失效分析技术与经典案例”技术讲座邀请函

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